Loi binomiale et fiabilité

Composants en série/parallèle.

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En clair. On répète nn fois la même épreuve indépendante (pièce bonne ou mauvaise) et on compte les succès : c'est la loi binomiale.

Ce qu'on te demande au bac STI2D : reconnaître les conditions d'une binomiale, calculer P(X=k)P(X=k) et l'espérance E(X)=npE(X)=np à la calculatrice.

Exemple simple. 50 pièces, 2 % de défauts : en moyenne 1 pièce défectueuse par lot.

Loi binomiale et fiabilité — cours

Cadre. Une expérience de Bernoulli a deux issues : succès (probabilité pp) ou échec (1−p1-p). On répète nn épreuves indépendantes et identiques. La variable XX = « nombre de succès » suit la loi binomiale B(n,p)\mathcal{B}(n,p).

Formule. P(X=k)=(nk)pk(1−p)n−kP(X=k)=\binom{n}{k}p^k(1-p)^{n-k} pour k∈{0,…,n}k\in\{0,\ldots,n\}, avec (nk)=n!k!(n−k)!\binom{n}{k}=\dfrac{n!}{k!(n-k)!}.

Espérance et variance. E(X)=npE(X)=np, V(X)=np(1−p)V(X)=np(1-p), σ(X)=np(1−p)\sigma(X)=\sqrt{np(1-p)}. Pour n=100n=100 lots avec p=0,02p=0{,}02 de défaut : on attend E(X)=2E(X)=2 défauts en moyenne, σ≈1,4\sigma\approx 1{,}4.

Fiabilité industrielle. Un système de nn composants en parallèle, chacun fiable avec probabilité pp : P(systeˋme OK)=1−(1−p)nP(\text{système OK})=1-(1-p)^n. En série : P=pnP=p^n. Redonder améliore drastiquement la disponibilité (avionique, data centers Tier IV).

Contrôle qualité. Sur un lot de n=50n=50 pièces avec p=0,05p=0{,}05 de rebut, on accepte si X≤3X\le 3. P(X≤3)=∑k=03(50k)(0,05)k(0,95)50−k≈0,76P(X\le 3)=\sum_{k=0}^{3}\binom{50}{k}(0{,}05)^k(0{,}95)^{50-k}\approx 0{,}76. Ce type de plan est normalisé par ISO 2859-1 (plans d'échantillonnage AQL).

Loi normale — approximation. Dès que np≥5np\ge 5 et n(1−p)≥5n(1-p)\ge 5, B(n,p)≈N(np, np(1−p))\mathcal{B}(n,p)\approx \mathcal{N}(np,\,np(1-p)). On calcule alors des intervalles de fluctuation : [np−1,96σ ; np+1,96σ][np-1{,}96\sigma\,;\,np+1{,}96\sigma] contient XX dans 95 % des cas.

MTBF et loi exponentielle. Pour un temps de panne continu, on utilise plutôt R(t)=e−λtR(t)=e^{-\lambda t} avec λ\lambda le taux de défaillance (h⁻¹) et MTBF=1/λ\text{MTBF}=1/\lambda. La binomiale reste l'outil pour compter des événements discrets sur nn essais.

À retenir. Loi binomiale = comptage de succès dans nn essais indépendants ; E(X)=npE(X)=np ; σ=np(1−p)\sigma=\sqrt{np(1-p)} ; approximation normale dès n≥30n\ge 30 et np≥5np\ge 5.

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  1. Question 1.

    X∼B(10;0,3)X\sim\mathcal B(10;0{,}3). Que vaut E(X)E(X) ?

  2. Question 2.

    Avec les mêmes paramètres, V(X)V(X) vaut :

  3. Question 3.

    P(X=2)P(X=2) pour B(5;0,4)\mathcal B(5;0{,}4) vaut environ :

  4. Question 4.

    Une expérience de Bernoulli a deux issues :

Sources et références

Ce cours est rédigé par l'équipe RévisionBac à partir du programme officiel et des sources institutionnelles ci-dessous. Elles permettent de vérifier les définitions, les chiffres et les normes citées.

  1. 1.Programmes et ressources du lycée général et technologique — Éduscol — Ministère de l'Éducation nationale
  2. 2.Bulletin officiel de l'Éducation nationale (programmes du baccalauréat) — education.gouv.fr
  3. 3.Textes de loi et jurisprudence — Légifrance

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Historique éditorial

Ce chapitre est rédigé et relu par l'équipe RévisionBac, puis enrichi par les contributions validées.

  1. — Dernière mise à jour du cours (relecture et enrichissement)
  2. — Première publication de la fiche de cours